超低頻率介電常數測試儀

超低頻率介電常數測試儀工作頻率范圍是20Hz～1MHz,它能完成工作頻率內對絕緣材料的相對介電常數(ε)和介質損耗角 (D或tanδ)變化的測試。

超低頻率介電常數測試儀中測試裝置是由平板電容器組成，平板電容器一般用來夾被測樣品，配用高頻阻抗分析儀作為指示儀器。絕緣材料的介電常數和損耗值是通過被測樣品放入平板電容器和不放樣品的D值(損耗值)變化和Cp（電容值）讀數通過公式計算得到。

◎ 高頻阻抗分析儀電容值Cp分辨率0.00001pF和6位D值顯示，保證了ε和D值精度和重復性。 ◎ 介電常數測量范圍可達1～105

超低頻率介電常數測試儀主要技術指標：

2.1 ε和D性能：

2.1.1 固體絕緣材料測試頻率20Hz～1MHz的ε和D變化的測試。

2.1.2 ε和D測量范圍：ε：1～105，D：0.1～0.00005，

2.1.3 ε和D測量精度（10kHz）：ε：±2% ， D：±5%±0.0001。

頻率范圍：20Hz～1MHz 數字合成，

精度：±0.02%

電容測量范圍：0.00001pF～9.99999F 六位數顯

電容測量基本誤差：±0.05%

損耗因素D值范圍：0.00001～9.99999 六位數顯

介電常數測試裝置（含保護電極）： 精密介電常數測試裝置提供測試電極，能對直徑φ10～56mm，厚度<10mm的試樣測量。

它針對不同試樣可設置為接觸電極法，薄膜電極法和非接觸法三種，以適應軟材料，表面不平整和薄膜試樣測試。

2.4.1 微分頭分辨率：10μm

2.4.2 zui高耐壓：±42Vp（AC+DC）

2.4.3 電纜長度設置：1m

2.4.4 zui高使用頻率：30MHz 

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